RT 시스템은 전통적으로 산란특성(Bi-Directional Scattering (Reflectance / Transmittance) Distribution)에 이용되고 있는

고니어미터 방식을 채용하였으며 입사광과 측정부의 각도를 임의로 변화시켜 다양한 각도에서의 반사율 및 투과율을 측

정하도록 설계되었으며 임의 설정한 각도에서의 분광 측정도 가능하며 또한 전용 Software에 의해 광학계를 제어함과 동

시에 측정한 분광치로 각종 표색계를 계산하여 각종 분석용 그래프에 도시한다. 정밀한 측정을 위하여 할로겐(360nm ~

1,500nm)과 레이저(405nm, 532nm, 630nm, 780nm,850nm, 980nm)2가지의 광원을 장착할 수 있으며 가시광과 적외선에

대한 산란 특성평가가 가능한 것이 장점이다. 또한 최고의  Dynamic Range를 확보하여 저확산면에서 미러와 같은 경면

성분이나 헤이즈의 분석이 동시에 가능한  최적의 조건을 갖춘 설비입니다.