▣ ToF 측정(In-Line)
FEATURE
■ 3D 센싱 모둘 측정가능
■ One-Shot 스캔 방식
■ 파장 범위: 800~1,000nm
■ 측정거리: 10mm
■ 광각 측정: +/- 70o
차세대 생체인식 방식로 아이폰 핸드폰에 채용된 페이스 아이디(Face ID) 기술은 도트 프로젝터(Dot Projector), 적외선 카메라(IR Camera), 투광 일루미네이터(Projection Illuminator)로 구성된 카메라 시스템이 적용되어 있다. 일반적인 경우에 빔 프로파일(Beam Profile) 측정에는 고니어 미터(Goniometer)를 이용하여 계측기를 회전하거나 샘플을 회전하여 이차원이나 삼차원적인 광량분포를 측정해오고 있다. 하지만 이 방법은 측정기구물 구성이 복잡하고 측정에 상당한 시간이 소요되는 작업이었다. 그 이후에 도입된 방식이 Conoscope 렌즈를 사용한 방식을 몇몇 업체에서 소개 하고 있으나 이 또한 비용이 큰 걸림돌이 되어 도입이 쉽지 않고 시스템의 안정성이 떨어지는 것이 문제점으로 지적되어 왔다. 여기에 적용된 방식은 상대적으로 저가의 비용으로 보다 더 많은 정확한 데이터를 확보하는 것이 가능하도록 설계되었다. 또한 사용자 위주로 구성된 구동프로그램은 측정치를 각종 차트 및 분석용 그래프에 도시하며 편리하게 조작할 수 있다.
SDV 시리즈는 conoscope 광학계를 이용하여 각도별 광량 분포를 측정해야 하는 분야에 컴팩트하고 신뢰성 있는 디자인에 안정인 구조를 가지고 있으며 데이터의 재현성 및 정확도를 배가하였다. 이 기술의 빠른 측정속도는 외부광의 영향을 전혀 받지 않고 특히 대량의 측정이 요구되는 개발이나 생산라인에서 전수검사용으로 적합합다.
IN-Line Test Criteria
In-Line Inspection in Progress
Fully Automated Operation
Spectral Coverage of 400~1000nm
Capable of measuring Vcsel, Diffuser NG(red)/OK(green) classification
SC Specification